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日本日置C測(cè)試儀HIOKI 3506-10

日本日置C測(cè)試儀HIOKI 3506-10對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試,模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量,提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度,1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量,根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量

產(chǎn)品詳情

日本日置C測(cè)試儀HIOKI 3506-10

對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試
● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量
● 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量
● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
輸入用探頭/測(cè)試夾具,實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的,不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件。 ※RS-232C用連接線可以使用支持網(wǎng)絡(luò)連接的市面上銷售的交叉線。RS-232C連接線9637除硬件流控制之外的情況下可以使用。

日本日置C測(cè)試儀HIOKI 3506-10

日本日置C測(cè)試儀HIOKI 3506-10的技術(shù)參數(shù):

測(cè)量參數(shù) C(電容),D(損耗系數(shù)tanδ), Q (1/tan δ)
測(cè)量范圍 C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度 (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
測(cè)量頻率 1kHz, 1MHz
測(cè)量信號(hào)電平 500mV, 1V rms
輸出電阻 1Ω (在1kHz 時(shí)2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
顯示 LED(6位顯示,滿量程由點(diǎn)數(shù)有效距離來決定)
測(cè)量時(shí)間 1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz
功能 BIN分類測(cè)量, 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 電流檢測(cè)監(jiān)視功能, 輸出電壓值監(jiān)視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
電源 AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, zuida40VA
體積及重量 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件 電源線× 1, 電源備用保險(xiǎn)絲× 1,使用說明書× 1

 

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