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日本日置LCR測(cè)試儀IM3536

日本日置LCR測(cè)試儀IM3536測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz,測(cè)量時(shí)間:zui快1ms,基本精度:±0.05% rdg,1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量,可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量,從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中,主機(jī)不標(biāo)配測(cè)試治具。請(qǐng)?jiān)谶x件中選擇測(cè)試治具和探頭。

產(chǎn)品詳情

日本日置LCR測(cè)試儀IM3536

DC,4Hz~8MHz測(cè)量頻率
● 測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz
● 測(cè)量時(shí)間:zui快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
主機(jī)不標(biāo)配測(cè)試治具。請(qǐng)?jiān)谶x件中選擇測(cè)試治具和探頭。

日本日置LCR測(cè)試儀IM3536

寬廣范圍的測(cè)量條件下,非常適用于進(jìn)行研發(fā)和評(píng)估實(shí)際使用條件的LCR測(cè)試儀

寬頻率范圍的LCR非常適用于研發(fā)和評(píng)估不同工作頻率范圍下壓電元器件和線圈等的諧振頻率。推薦用于評(píng)估壓電元件和線圈的共振頻率。若使用應(yīng)用軟件※則能夠簡(jiǎn)單的對(duì)頻率、電壓和電流進(jìn)行掃描和測(cè)量。
 可變頻率:DC, 4 Hz?8 MHz
電壓可變:10 mV?5 V(V模式/CV模式)
 電流可變:10 μA?100 mA(CC模式)
※能夠使用計(jì)算機(jī)設(shè)置掃頻(或電壓、電流),并將測(cè)量數(shù)據(jù)以CSV或Excel格式保存。應(yīng)用軟件請(qǐng)使用標(biāo)配的CD進(jìn)行安裝,或從HP中下載。

日本日置LCR測(cè)試儀IM3536


日置LCR測(cè)試儀續(xù)測(cè)量功能:希望以1kHz檢查電源電感的L-Q,還想檢查直流電阻(Rdc)。這時(shí),1臺(tái)IM3536就可以在2種測(cè)試要求下進(jìn)行連續(xù)高速測(cè)試。

LCR測(cè)試儀IM3536

LCR測(cè)試儀在自動(dòng)化產(chǎn)線中測(cè)試可靠:測(cè)試線補(bǔ)償

線長(zhǎng)補(bǔ)償設(shè)置可設(shè)置為:0 m / 1 m / 2 m / 4 m。測(cè)試線延長(zhǎng)時(shí)也能保證精度。

LCR測(cè)試儀IM3536


LCR測(cè)試儀在自動(dòng)化產(chǎn)線中測(cè)試可靠:接觸檢查功能

4端子測(cè)量時(shí),預(yù)先設(shè)置判斷測(cè)試端與被測(cè)物的接觸狀態(tài)。 測(cè)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻,并在超過(guò)所設(shè)閾值時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)。


LCR測(cè)試儀IM3536

日本日置LCR測(cè)試儀IM3536的技術(shù)參數(shù):

測(cè)量模式LCR(單一條件下測(cè)量),連續(xù)測(cè)量(保存條件下連續(xù)測(cè)量)

測(cè)量參數(shù)

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測(cè)量量程100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數(shù)由Z規(guī)定)
顯示范圍Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ)
測(cè)量頻率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jìn))
測(cè)量信號(hào)電平[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zuida50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zuida10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zuida100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zuida5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zuida1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zuida1 V)
[直流電阻測(cè)量]: 1 V固定
DC偏壓發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時(shí)0 ~1 V)
輸出阻抗通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示彩色TFT5.7英寸,觸摸屏
功能比較器、BIN測(cè)量(2個(gè)項(xiàng)目10種分類),觸發(fā)功能、開(kāi)路·短路補(bǔ)償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲(chǔ)功能
接口EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件電源線×1,使用說(shuō)明書×1,CD-R(通訊說(shuō)明書,LCR應(yīng)用光盤)×1

 日本日置LCR測(cè)試儀IM3536的選件:

SMD測(cè)試治具IM9100:直接連接型,底部有電極SMD用,DC~8MHz,可測(cè)量樣品尺寸:0402~1005(JIS)
4端子開(kāi)爾文夾9140-10:DC~200kH,50 Ω,1 m長(zhǎng)
測(cè)試治具9261-10:線長(zhǎng)1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可測(cè)端口直徑:0.3~1.5mm
測(cè)試治具9262:DC~8 MHz, 直接連接型
SMD測(cè)試治具9263:直接連接型, DC~5 MHz 測(cè)試尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置電壓?jiǎn)卧?9268-10:直接連接型,40Hz~8MHz,zuida外加電壓DC±40V
DC偏置電流單元 9269-10:直接連接型,40Hz~2MHz,zuida外加電流DC 2A(zuida外加電壓DC±40V)
4端子探頭 9500-10:線長(zhǎng)1m,DC~200kHz,50Ω,可測(cè)導(dǎo)體直徑φ0.3mm~2mm
SMD測(cè)試治具9677:用于側(cè)面有電極的SMD DC~120MHz,測(cè)試樣品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD測(cè)試治具9699:用于底部有電極的SMD DC~120MHz,測(cè)試樣品 尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下
前端探針I(yè)M9901:用于更換L2001的前端的通用尺寸,L2001標(biāo)配
前端探針I(yè)M9902:用于更換L2001的前端的小型尺寸
4端子探頭L2000:DC~8MHz,1m長(zhǎng)
鑷形探頭L2001:線長(zhǎng)73cm,DC~8MHz,50Ω,前端電極間隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
※使用9268-10或9269-10時(shí)需要外接的恒壓源、恒流源。

GP-IB連接線9151-02:2m長(zhǎng)
RS-232C 連接線 9637:9pin-9pin,1.8m長(zhǎng)

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