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LCR測(cè)試儀的使用方法

時(shí)間:2020-05-02 13:30:07 來源:日本日置 點(diǎn)擊:19393次

LCR測(cè)試儀的使用方法

1.LCR測(cè)試儀的加電
首先將LCR測(cè)試儀電源線帶IEC一端接到電橋左后方的IEC插座上,另一端插入合適的電源插座上,搬動(dòng)LCR測(cè)試儀左后方的船形開關(guān),即使電橋通電。通電后,顯示器、量程及功能指示器隨之變亮。LCR測(cè)試儀可自動(dòng)置于電感、電容測(cè)量檔,并聯(lián)等效及1KHz頻率狀態(tài)。正常情況下,內(nèi)部電路加電幾秒鐘后即能穩(wěn)定,便可進(jìn)行測(cè)量。

2.LCR測(cè)試儀被測(cè)元件的接入方法
⑴通常徑向引線的元件可直接插入組合測(cè)試夾夾板內(nèi),而接入特殊柔性引線的元件時(shí),應(yīng)借助夾板離合器進(jìn)行,該離合裝置位于測(cè)試夾的正下方。
⑵接入軸向引線元件時(shí),為避免扭折引線,可采用軸向轉(zhuǎn)接頭,先把這兩個(gè)配件分別插入測(cè)試夾的兩端,再將其間距調(diào)正到適合元件測(cè)量的位置,然后便將軸向引線元件插入兩端的配件夾內(nèi)。
⑶在軸向轉(zhuǎn)接頭必需相當(dāng)牢固定的場(chǎng)合,如在測(cè)量大量的同類元件時(shí),需采用支撐板。
安裝支撐板:首先把軸向轉(zhuǎn)接頭調(diào)整到適當(dāng)?shù)奈恢蒙希缓髮⒅伟鍛抑糜谳S向轉(zhuǎn)接頭上方,讓每個(gè)軸向轉(zhuǎn)接頭穿過支撐板上的槽縫,放好支撐板,將固定螺釘對(duì)準(zhǔn)LCR測(cè)試儀面板上的螺孔,zui后上緊螺釘。注意:安裝時(shí)不易將螺釘擰得過緊。
注意:本LCR測(cè)試儀雖能夠?qū)Τ潆婋娙萁尤霚y(cè)試進(jìn)行防護(hù),但更好應(yīng)將充電電容經(jīng)適當(dāng)電阻放電后才進(jìn)行測(cè)量。

Hioki_IM3533-01_LCR_Tester.jpg

LCR測(cè)試儀IM3533-01

3.使用中注意LCR測(cè)試儀讀數(shù)及測(cè)量條件顯示
LCR測(cè)試儀的6位顯示不一定全部是有效顯示,在某些測(cè)量中測(cè)量數(shù)據(jù)的未尾值可能跳動(dòng)較大,應(yīng)舍去這些跳動(dòng)數(shù)值,讀取其穩(wěn)定值。
(2)一般使用LCR測(cè)試儀自動(dòng)量程進(jìn)行測(cè)量,以保證選擇到正確的量程,操作到手動(dòng)方式可以觀察實(shí)際工作量程。應(yīng)用于同批同種測(cè)量元件的批量測(cè)試時(shí),可以選擇量程鎖定模式工作。
(3)串--并聯(lián)指示
雖然LCR測(cè)試儀具有顯示串聯(lián)或并聯(lián)等效值的選擇性,但在不利的Q值情況下,用上述兩種方式均不可能獲得基本準(zhǔn)確度。當(dāng)需要改動(dòng)某一顯示方式以便提高基本準(zhǔn)確度時(shí),LCR測(cè)試儀通過下標(biāo)s表示串聯(lián),下標(biāo)p表示并聯(lián)。
(4)頻率提示
200μF~2000μF的電容,200H~2000H的電感,測(cè)量頻率在100Hz只能獲得基本準(zhǔn)確度。同樣,200pF~2nF的電容和200μH~2mH的電感,只有在1KHz測(cè)量頻率上才能獲得基本準(zhǔn)確度,因此獲得更佳測(cè)試性能,應(yīng)選擇zui合適的測(cè)試頻率。
(5)測(cè)試電平顯示
高K陶瓷電容或高導(dǎo)磁磁性電感器等,對(duì)測(cè)試信號(hào)電平的大小較為敏感,不同的測(cè)試電平會(huì)產(chǎn)生相異的測(cè)量結(jié)果。同時(shí),測(cè)試電平越低,測(cè)量穩(wěn)定性越差。

4. LCR測(cè)試儀的測(cè)量條件參考表
表 測(cè)量條件參考
元件名稱 測(cè)量頻率 串--并聯(lián)
電容<1μF 1KHz 并聯(lián)
電容≥1μF(非電解電容) 100Hz 并聯(lián)
電容≥1μF(電解電容) 100Hz 串聯(lián)(SER)
電感<1H 1KHz 串聯(lián)(SER)
電感≥1H 100Hz 串聯(lián)(SHR)
電阻<10KΩ 100Hz 串聯(lián)(SHR)
電阻≥10KΩ 100Hz 并聯(lián)

當(dāng)日置LCR測(cè)試儀在100Hz和1KHz頻率上,能同時(shí)提供串聯(lián)和并聯(lián)等效元件值時(shí)建議:一定型號(hào)和數(shù)值的元件應(yīng)采用一定的方式進(jìn)行測(cè)量。這樣做是為了獲得既zui適合于元件的結(jié)構(gòu)形式,又zui適合于元件常用的工作方式的測(cè)量。如大容量的電解電容器,常作為電源波濾元件,測(cè)量時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn),1KHZ頻率上的電容值明顯低于100Hz頻率上的電容值。這種現(xiàn)象是由于這類元件的幾何結(jié)構(gòu)有關(guān)諸因素所構(gòu)成。因此,電解電容在100Hz頻率上測(cè)量的電容值是zui有用的,電解電容的損耗項(xiàng)通常在串聯(lián)等效電阻(ESR)上顯示,因此,應(yīng)該測(cè)量其串聯(lián)電容和串聯(lián)電阻值。

日置LCR測(cè)試儀

LCR測(cè)試儀IM3523

LCR的含義:

L:電感(為了紀(jì)念物理學(xué)家Heinrich Lenz),

C:電容(Capacitor),

R:電阻(Resistance),

數(shù)字LCR測(cè)試儀就是能夠測(cè)量電感,電容,電阻,阻抗的儀器,這是一個(gè)傳統(tǒng)習(xí)慣的說法,zui早的阻抗測(cè)量用的是真正的LCR測(cè)試儀方法.

隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展,早已經(jīng)淘汰了這種測(cè)量方法,但LCR測(cè)試儀的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR測(cè)試儀。一般用戶又稱這些為:LCR測(cè)試儀、LCRLCR測(cè)試儀、LCR表、LCR Meter等等。

LCR測(cè)試儀的測(cè)試原理

數(shù)字LCR測(cè)試儀的測(cè)量對(duì)象為阻抗元件的參數(shù),包括交流電阻R、電感L及其品質(zhì)因數(shù)Q,電容C及其損耗因數(shù)D。因此,又常稱數(shù)字LCR測(cè)試儀為數(shù)字式LCR測(cè)量?jī)x。其測(cè)量用頻率自工頻到約100千赫?;緶y(cè)量誤差為0.02%,一般均在0.1%左右。

數(shù)字LCR測(cè)試儀原理如圖所示。圖中DUT為被測(cè)件,其阻抗用Zx表示,Rr為標(biāo)準(zhǔn)電阻器。切換開關(guān)可分別測(cè)出兩者的電壓Ux與Ur,于是有下式:


平衡式LCR測(cè)試儀測(cè)試原理

Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur

此式為一相量關(guān)系式。如使用相敏檢波器(PSD)分別測(cè)出Ux和Ur對(duì)應(yīng)于某一參考相量的同相量分量和正交分量,然后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)器將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字量,再由計(jì)算機(jī)進(jìn)行復(fù)數(shù)運(yùn)算,即可得到組成被測(cè)阻抗Zx的電阻值與電抗值。[2]

從圖中的線路及工作原理可見,數(shù)字LCR測(cè)試儀只是繼承了LCR測(cè)試儀傳統(tǒng)的稱呼。實(shí)際上它已失去傳統(tǒng)經(jīng)典交流LCR測(cè)試儀的組成形式,而是在更高的水平上回到以歐姆定律為基礎(chǔ)的測(cè)量阻抗的電流表、電壓表的線路和原理中。

數(shù)字LCR測(cè)試儀可用于計(jì)量測(cè)試部門對(duì)阻抗量具的檢定與傳遞,以及在一般部門中對(duì)阻抗元件的常規(guī)測(cè)量。很多數(shù)字LCR測(cè)試儀帶有標(biāo)準(zhǔn)接口,可根據(jù)被測(cè)值的準(zhǔn)確度對(duì)被測(cè)元件進(jìn)行自動(dòng)分檔;也可直接連接到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),用于元件生產(chǎn)線上對(duì)產(chǎn)品自動(dòng)檢驗(yàn),以實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制。80年代中期,通用的誤差低于0.1%的數(shù)字LCR測(cè)試儀有幾十種。數(shù)字LCR測(cè)試儀正向著更高準(zhǔn)確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。

 HIOKI IM3536 LCR測(cè)試儀

HIOKI IM3536 LCR測(cè)試儀

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日本日置LCR測(cè)試儀IM3536
日本日置LCR測(cè)試儀IM3533
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LCR測(cè)試儀怎么選型?

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