日本日置絕緣電阻測(cè)試儀 ST5520
ST5520實(shí)現(xiàn)了"高速"絕緣電阻檢查，ST5520主機(jī)無法單獨(dú)測(cè)量。請(qǐng)根據(jù)測(cè)量目的另外購買測(cè)試線。
● zui快50ms的高速判斷
● 快速釋放殘留電壓
● 任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）
● 接觸檢查功能（防止由于接觸不良造成的誤判斷）
● 短路檢查功能（防止不合格品流入市場(chǎng)）
實(shí)現(xiàn)絕緣電阻檢查的“快速”
絕緣電阻測(cè)試儀ST5520是一款滿足了生產(chǎn)線上快節(jié)奏要求的產(chǎn)品。
zui快50ms的快速判定
以業(yè)界zui快50ms的速度檢查完畢。與本公司以往機(jī)型相比速度提高了近700ms。
（※波形為9MΩ、10pF的被測(cè)物的檢查結(jié)果。）
高速自動(dòng)放電功能
檢查后的放電時(shí)間與以往機(jī)型相比大幅縮短。 同一條件下比較，也能實(shí)現(xiàn)990ms的工時(shí)的改善。
2種接觸檢查
4端子連接時(shí)和2端子連接時(shí)，有2種接觸檢查功能。
通過微短路檢測(cè)查提高檢查品質(zhì)
通過低電壓檢查準(zhǔn)確找出如微短路這樣因?yàn)楦邏簩?dǎo)致燒損設(shè)備的不良現(xiàn)象。
帶開關(guān)的探頭（選件）
可以手持探頭直接作業(yè)，實(shí)現(xiàn)安全、簡(jiǎn)單的測(cè)量。
日本日置絕緣電阻測(cè)試儀 ST5520的技術(shù)參數(shù)：
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 絕緣電阻（直流電壓施加方式） |
|---|---|
測(cè)試電壓/測(cè)量量程 | 25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), 100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ) |
| 基本精度 | ±2 % rdg. ±5 dgt. 25 V ≦ V < 100 V [0～20 MΩ], 100 V ≦ V < 500 V [0～20 MΩ], 500 V ≦ V ≦ 1000 V [0～200 MΩ] |
| 測(cè)試速度 | FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切換） |
| 顯示屏 | LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段 |
| 存儲(chǔ)功能 | 保存內(nèi)容：額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度 |
| 測(cè)試模式 | 連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式（切換） |
| 比較設(shè)置 | UPPER_FAIL：測(cè)量值≧上限值 PASS： 上限值＞測(cè)量值＞下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值≦下限值 |
| 判定處理 | 蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮，UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮，EXT. I/O 輸出、通過RS-232C獲取判定結(jié)果 |
| 試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 0.045 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率），從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間 |
| 響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 試驗(yàn)開始后，禁止按照0.005 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率）設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間 |
| 模擬輸出 | DC +4 V f.s. |
| 接口 | RS-232C（標(biāo)配），外部I/O（外部控制器用輸入，判定結(jié)果輸出），BCD輸出（僅限ST5520-01） |
| 電源 | AC100 V ～ 240 V，50/60Hz，zuida25VA |
| 體積及重量 | 215W×80H×166Dmm，1.1kg |
| 附件 | 使用說明書×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1 |
